設計資料蒐集系統的工程師經常要面對如何濾除來自系統內外雜訊的設計問題。這些雜訊之中許多都來自資料蒐集系統內的各種不同電路，例如運算放大器、類比/數位轉換器、供電導線以及數位通訊介面，因此系統設計工程師往往要花很多時間和精神才可將這些雜訊濾除。我們希望透過今次線上研討會和各工程師探討如何改進雜訊濾除，特别是行動電話訊號、超高頻及特高頻等電磁波的雜訊濾除。我們也将由最初的構思以至實際的應用來討論究竟如何才可提高系統的雜訊抑制能力而又不會令系統設計變得更複雜。

時間: 26分鐘

發布日期: 2008年 9月

網上研討會的內容:

• 電磁波雜訊对資料蒐集系統的影响
• 電磁波雜訊对系统整体性能的影响
• 電磁波如何进入系统并造成干扰
• 系统对電磁波干扰的灵敏度
• 抗电磁干扰能力极高的运算放大器可以承受较强的电磁干扰
• 电磁干扰对运算放大器性能的影响
• EMIRR 是衡量抗电磁干扰能力的参数
• 如何测量电磁干扰抑制比 (EMIRR)
• 应用实例
• 抗电磁干扰能力极高的产品

主講人:

張葆信
產品應用經理

張葆信於2005年加入美國國家半導體，負責美國國家半導體台灣區儀器及音響工業相關市場的類比技術應用。張先生服務於電子業界已有十餘年，在業界經驗相當豐富，加入美國國家半導體之前,他分別於達創公司從事網路產品設計及大傳電子公司從事類比IC應用工程師4年及6年之久。